Preferred Term:
microscopia de fuerza atómica
Definition:
Tipo de microscopia de sonda de barrido en el que una sonda recorre sistemáticamente la superficie de una muestra que está siendo escaneada en una trama de barrido. La posición vertical es registrada a medida que un resorte conectado a la sonda sube y baja en respuesta a los puntos más altos y más bajos de la superficie. Estas desviaciones generan un mapa topográfico de la muestra.
Concept Schemes:
NALT Core
https://lod.nal.usda.gov/nalt
https://lod.nal.usda.gov/nalt
Términos Genéricos:
URI:
https://lod.nal.usda.gov/nalt/188543
Download this Concept:
RDF/XMLCreated 2012-07-10, last modified 2020-10-05
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